Support - Equipment
球差校正场发射透射电子显微镜系统TEM
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| Specifications | |
| Manufacturer | 日本电子(JEOL ) |
| model | JEM-ARM300F2 |
| Manufacturing country | 日本 |
| Classification number | |
| Placement location | |
| date of production | 2023-08-24 |
| Acquisition Date | 2023-08-24 |
| Network access date | 1970-01-01 |
information
reservation
| Main specifications and technical indicators | 1、 TEM信息分辨率：60 pm@300 kV；70 pm@200 kV；90 pm@80 kV； |
| Main functions and features | JEM-ARM300F2 具有高亮度、高相干性、低能量展宽的冷场发射电子源，配备聚光镜、物镜双校正系统， 可实现亚埃尺度的高分辨STEM、ABF、BF、DF、HAADF以及高分辨相干像等成像功能。同时配合高分辨率的X 射线能谱仪及电子能量损失谱仪，实现研究材料中轻、重元素原子亚埃尺度分辨率下同时成像及元索分布分析， 实现材料中全组元的结构及组成原子级分析。 |
Main attachments and configurations |
无 |
tel：024-80239486
add：280 Chuangxin Rd, Shenyang
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liao ICP2022005338
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