1、TEM分辨率：点分辨率≤0.25 nm、信息分辨率≤0.12 nm；
2、STEM分辨率≤0.16 nm；
3、HAADF探头和16分割PantherSTEM探头，可采集BF，ABF，ADF和HAADF图像；
4、 Super-X EDS 系统，有效探测器面积120 mm²，能量分辨率（Mn-Kα ）：优于136 eV；
5、同时采集STEM和EDX的二维和三维分析信号，实现多维快速化学分析。

Talos F200X 具有优秀的高分辨率 STEM 和 TEM 成像与业界领先的能量色散 X 射线光谱 (EDS) 信号检测，可在多维度下对纳米材料进行快速、精确的定量表征。可用于材料的显微结构分析，对材料晶格、缺陷或界面原子结构表征，给出材料的化学成分信息、电子结构和成键信息。

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